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質量保障

shenyuan semiconductors co.,LTD.
致力于成為行業領先的半導體功率器件方案提供商

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主要的可靠性試驗項目和常用試驗條件

試驗項目 試驗條件 試驗時間/次數
恒溫恒濕試驗THT Ta=85±2℃,RH=85±5% 168hrs/500hrs/1000hrs
溫度循環試驗TCT

-55℃ 30℃ 150℃ 30℃ -55℃  15min,2min,15min,2min,15min

100cy / 500cy / 1000cy
高溫反偏 / 柵偏試驗 HTRB / HTGB Ta=150℃ VCB=0.8*BVCBO VDS=0.8*BVDSS 168hrs / 500hrs / 1000hrs
高溫存儲試驗HTST Ta=150℃ 168hrs / 500hrs / 1000hrs
高壓蒸煮試驗 PCT 121℃,100%RH,202650pa 96hrs / 168hrs
可焊性試驗 ST 245± 5℃ 5± 0.5sec